微振動量測與監測服務
本公司於2005年成立至今，致力於耐震、制震與隔震相關產品研發設計，以提升結構安全與可靠性，現今隨著科技進步，使用者對環境有更高的要求，需要抑制的振動源也不僅止於地震。
以半導體製程演進而言，晶片製造之容錯率更低；
以加工製造業而言，產品需求的精密程度也較以往大幅度提升；
微創手術的日益普及，手術室的環境擾動也需要隨之下降以提供醫療人員進行醫療作業的需要。
因此，本公司致力於微振動量測與監測的服務進行研發，並且投入技術人員參與相關能力證書訓練，以最專業的態度為客戶提出可靠的數據結果，透過本服務提供客戶更多元化的產品選項。
服務說明
本公司針對現有規範VC振動曲線給定建議值提供微振動量測與監測之服務，可有效協助客戶評估使用環境場域的振動等級，以判定周遭環境是否符合工作需求。量測案例如下圖所示。
以下列出VC-Curve 等級對應的適用區域。(供參考)
| 振動等級 | 對應環境描述 |
| Workshop (ISO) | 明顯可察覺的振動，適用於一般工作場域和非敏感區域。 |
| Office (ISO) | 可察覺的振動，適用於辦公室和非敏感區域。 |
| Residential Day (ISO) | 幾乎察覺不到振動，在大多數情況下適合臥室/起居室、大部分電腦設備、醫院復健室、半導體探針測試設備和小於40倍的顯微鏡。 |
| Op. Theatre (ISO) | 無法察覺振動，在大多數情況下適用於手術室、低倍率顯微鏡(100X)和其他低靈敏度設備。 |
| VC-A | 放大倍率至400倍的光學顯微鏡在此環境下均可適用。 |
| VC-B | 製程的光學檢測設備及黃光製程設備均可適用此一規格。 |
| VC-C | 此準則為1000倍以下的光學顯微鏡，1μm製程的光學檢測設備和黃光製程設備的良好準則標準。 |
| VC-D | 大部分的設備，包括電子顯微鏡（TEM及SEM以及E-Beam）系統運轉時都要求振動環境在此範圍內，才可保障設備的性能充分發揮。 |
| VC-E | 在大部分的情況下此一標準不易達到，通常是一些以雷射為主、行程較長、聚焦點較小的設備或其他的系統才會要求如此的振動環境。 |
| VC-F | 適用於極其安靜的空間，在大多數情況下無法實現，尤其是無塵室。不推薦用作設計標準，僅用於評估。 |
環境振動產生原因有許多可能，藉由現場周遭環境探視，以及利用感測儀器的數據採集進行訊號處理及後續分析，以下列舉並示意圖說環境振動發生原因如下：
1. 設備振動引發環境擾動：
M為設備本身重量，m為設備內旋轉單元質量，旋轉單元以F(t)之運動方程進行轉動，造成廠房樓板產生週期性振動。
圖壹、偏心旋轉單元造成擾動(如：洗衣機產生之振動)
2. 外部擾動導致設備振動：
設備質量為M，因人行載重F(t)影響使樓板產生振動，為不規則連續函數，產生的垂直向外力，可採用有限項傅立葉級數表示，本例簡化為F(t)表示項。
圖貳、人行載重造成設備周遭擾動
3. 自然原因引發的振動：
自然原因：
- 風：強風會使建築物、橋樑和高塔等結構產生振動。
- 地震：地震活動會產生地面振動，並能透過結構和設備傳播
- 水流：流動的水，特別是大流量的河流或工業管道，會引起附近結構的振動。
這些自然震動來源會產生不同程度的擾動，影響環境及其中的敏感設備。
4. 交通引起的振動：
交通：
- 車輛：包括汽車、卡車和火車在內的車輛經過附近時會引起顯著的振動，影響附近的結構。
- 路面：路面的狀況（例如坑洞、不平整的路面）會放大車輛經過時引起的振動。
- 交通量：較高的交通量會導致更顯著和持續的振動。
這些源自交通的振動會影響敏感設備和結構的穩定性和功能。
本公司針對為振動量測服務開發產品類型如下：
- 微振動量測應用程式
- 微振動場域量測
- 微振動長期監測
量測採用之儀器規格如下:
- 量測範圍：0.5 g (peak)
- 頻率響應：0.10 – 300 Hz (±10%)
- Broadband Noise：0.5 μg
- 24-bit resolution
如有以上服務需求，歡迎與我們聯繫。
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